拋光金屬光澤度檢測設(shè)備介紹

發(fā)布日期：2022-06-14      瀏覽次數(shù)：829

拋光金屬光澤度檢測設(shè)備介紹



高光澤度計(jì)用于超高光澤度測量

IG-410 可用于測量超高光澤表面，如拋光金屬。該儀表的測量范圍是傳統(tǒng)型號的十倍，甚至連鏡面也可以測量。

重量僅為350克（1.3磅），電池驅(qū)動(dòng)，儀器更為便攜。通過簡單的一鍵式操作可進(jìn)行快速可靠的測量。LED光源的使用壽命＜100000小時(shí)，因此無需更換零件。

IG-410 有兩個(gè)可供用戶選擇的測量范圍，具體取決于待測量的樣品。低光澤樣品可使用0 ~100范圍測量，高光澤樣品可使用0 ~ 1000范圍測量。提供兩個(gè)校準(zhǔn)板，方便用戶使用簡單的一鍵式校準(zhǔn)程序，以確保結(jié)果的再現(xiàn)性。

特點(diǎn)

• 新型號的光澤度計(jì)，可以檢查超高光澤度的樣品。

• 緊湊、輕便、可拆卸的探頭設(shè)計(jì)。

• 雙量程擴(kuò)展了低光澤范圍內(nèi)的測量分辨率。