鹵素強光燈在半導體硅晶片檢測上的運用

發(fā)布日期：2022-12-13      瀏覽次數：832

鹵素強光燈在半導體硅晶片檢測上的運用



晶圓片表面檢測燈半導體表面瑕疵檢查燈 表面檢查燈廠家 黃綠光/白光檢查燈
晶圓顆粒缺陷檢查燈YP-150I/YP-250I是一款黃綠光表面檢查燈（或者是白光），又叫半導體目檢燈，檢測燈的原理利用適合的LED燈源，通過光學鏡片折射出特殊波長的光源，照在工件表面折射出光路，使得操作員肉眼可識別出工件表面的灰塵、刮痕、毛刺、凹凸、油墨等瑕疵點，取代傳統(tǒng)的照明設備和光學系統(tǒng)機臺，直接通過照明光線和肉眼，觀測出一般玻璃表面、部件表面的瑕疵，極大的節(jié)省了一般工廠的采購成本。

半導體晶圓片缺陷檢測燈應用

LCD濾光片、偏光板。
晶圓、半導體。
玻璃或是金屬表面。
上列物品的刮痕及灰塵檢查。

晶圓片表面檢測燈檢察對象

硅和玻璃晶圓、液晶濾色器、玻璃鏡頭、光罩、電影、陶瓷、圓盤、金屬表面（鋁，不銹鋼，銅等）、陰極射線管、觸摸屏、太陽能電池、汽車、家電、建筑內部材料、光面紙、熱轉印膜、版、電子元器件等。

表面瑕疵檢查燈利用適合的LED燈源，通過光學透鏡和濾光片折射出特殊的光源，照在工件表面折射出光路，使得操作員肉眼可識別出工件表面的灰塵、刮痕、毛刺、凹凸、油墨等瑕疵。表面瑕疵檢查燈用于液晶玻璃、汽車玻璃、手機屏幕、基材、半導體硅晶圓片（晶圓/晶片）、柔性基板表面瑕疵檢查