反射率檢測儀TSS-5X-3的運用分析

發(fā)布日期：2024-09-10      瀏覽次數(shù)：112

反射率檢測儀TSS-5X-3的運用分析

透射/反射光譜是材料本身的一項重要光學特性，在現(xiàn)今工業(yè)蓬勃發(fā)展的背景下，對材料本身特性的質(zhì)量控制越來越嚴格，從而利用光譜儀進行快速準確的反射光譜/透射光譜的測量技術也開始日漸成熟。

透射/反射光譜儀系統(tǒng)具有測量快速，準確，方便集成等優(yōu)點，目前已經(jīng)廣泛應用到實驗室檢測、產(chǎn)品在線測試等應用。目前的主要應用在：

高分子材料反射/透射測試

建筑玻璃 反射/透射測試

在線 反射/透射測試

光伏壓花玻璃 透射測試

干涉濾光片 透射測試

薄膜樣品 反射/透射測試

各種晶體、塑料、紡織品等反射測試

平板、LCD、背光板、手機/平板油墨孔等透射測量

光譜反射測量的基本原理是利用光纖將光源輸送到物體的表面，再將材料的光譜反射數(shù)據(jù)傳到光纖光譜儀上，由軟件將其顯示，并對其進行分析，從而可以對待測樣品進行鑒定。在測量時，將一面與基準光路呈一定角度的標準反射器置于測量光路上，并以其反射光譜為參照。當暗光譜和參考光譜都收集完畢后，可以將被測量的樣品替換為標準的反射板，進行后續(xù)實驗的測試。

使用發(fā)射率計TSS-5X-3，您可以輕松測量樣品在室溫下的發(fā)射率。發(fā)射率值以數(shù)字方式顯示，方便查看，操作簡單。

量化材料表面處理的細微差別

TSS-5X-3 可讓您輕松測量室溫下的發(fā)射率。
樣品的發(fā)射率以數(shù)字方式顯示，方便查看，操作方便。


它被應用于從研發(fā)到大規(guī)模生產(chǎn)線的廣泛領域，包括空間、半導體和核電。






產(chǎn)品特點

• 量化材料表面處理的細微差別

  通過了解發(fā)射率，您可以提高加熱設備的輻射效率，設計強調(diào)散熱和隔熱的材料，還可以用于節(jié)省能源。

  TSS-5X-3使用兩種類型的參考件（發(fā)射率0.06和0.97），其參考發(fā)射率是預先已知的，并且可以在室溫下輕松測量，無需加熱樣品。

  它被應用于從研發(fā)到大規(guī)模生產(chǎn)線的廣泛領域，包括空間、半導體和核電。

   

• 測量原理

  

  紅外線被樣品反射，一部分紅外線通過半球形黑體爐頂部的小孔進入。
  檢測元件以恒定速率檢測該能量。

規(guī)格/光路圖

模型	TSS-5X-3
測量方法	使用紅外檢測的反射能量測量方法
測量波長	2～22μm
測量范圍	發(fā)射率：0.00~1.00
準確度等級	滿量程的 ±1%
測量面積	Φ15mm
測量距離	12mm（檢測頭柱固定）
樣品溫度	10-40℃（室溫）
測量值顯示	LED數(shù)字顯示（顯示至小數(shù)點后第二位）
輸出	0-0.1V、0-1V、滿量程
工作溫度/濕度范圍	10~45℃/35~85℃（無凝結(jié)）
電源/電力	AC100-240V，50/60Hz，30W *不含電源線。請選擇適合您所在位置的電源線。
尺寸/質(zhì)量	檢測頭：Φ51 x 137Lmm、0.6kg（含3000Lmm機器人電纜） 測量單元：156H x 306W x 230Dmm（不含橡膠腳柄等）、5.0kg
配件	發(fā)射率標準件存放盒：84H x 238W x 185Dmm，1.1kg 發(fā)射率標準件：0.06（鏡面）、0.97（黑體），各存放 1 個