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更新日期：2024-03-18
簡(jiǎn)要描述：
日本電測(cè)densoku攜式薄膜厚度計(jì)QNIx系列一種便攜式薄膜厚度計(jì)，可以通過麻煩的薄膜厚度測(cè)量更輕松地提高生產(chǎn)效率。
| 類型 | 數(shù)字式 | 測(cè)量范圍 | 1 |
|---|
日本電測(cè)densoku攜式薄膜厚度計(jì)QNIx系列
一種便攜式薄膜厚度計(jì)，可以通過麻煩的薄膜厚度測(cè)量更輕松地提高生產(chǎn)效率。
QNIx系列產(chǎn)品允許您僅使用超輕巧的緊湊型儀器和探頭即可測(cè)量薄膜厚度，而無需攜帶重型薄膜厚度計(jì)。
無線測(cè)量無需電纜。除了有助于將測(cè)量數(shù)據(jù)傳輸?shù)絺€(gè)人計(jì)算機(jī)外，它還有助于防止測(cè)量期間發(fā)生跌落事故。
無需進(jìn)行膜校準(zhǔn)即可進(jìn)行精確的膜厚度測(cè)量
通過在出廠時(shí)輸入16Point校準(zhǔn)數(shù)據(jù)來交付。這樣就無需進(jìn)行麻煩的薄膜校準(zhǔn)工作，并且可以精確測(cè)量薄膜厚度。
膜厚測(cè)量數(shù)據(jù)傳輸?shù)男录夹g(shù)
在常規(guī)的測(cè)量?jī)x器中，通過用電纜連接儀器主體和個(gè)人計(jì)算機(jī)來傳輸測(cè)量數(shù)據(jù)。QNIx系列使用“無線加密gou”，只需將其插入U(xiǎn)SB端口即可進(jìn)行傳輸?？梢愿?，更輕松地查看測(cè)量數(shù)據(jù)。
超輕量無線測(cè)量?jī)x
探頭測(cè)得的數(shù)據(jù)無線傳輸?shù)街鳈C(jī)。與傳統(tǒng)產(chǎn)品一樣，它也減少了被電纜卡住，阻礙和導(dǎo)致墜落事故的風(fēng)險(xiǎn)。此外，該探頭重30克，重量超輕，因此您不必隨身攜帶沉重的儀器。
難以斷裂且在被測(cè)物體上*跡的探針
QNIx系列探頭被增強(qiáng)塑料包圍，可將耐用性提高30％。即使發(fā)生故障，也很容易拆卸和維修，從而縮短了維修時(shí)間。此外，還附有紅寶石筆尖，因此您可以安全地進(jìn)行測(cè)量而不會(huì)損壞要測(cè)量的物體（樣品）。
日本電測(cè)densoku攜式薄膜厚度計(jì)QNIx系列
| QNIx 8500 | QNIx | QNIx 7500 | QNIx Carcheck系統(tǒng) | 方便的QNIx |
可測(cè)量的電影 | [F]鐵材料上的非磁性涂層 | [FN]鐵/非鐵材料上的非磁性/非導(dǎo)電涂層 | [FN]鐵/鋁材料上的非磁性/非導(dǎo)電膜厚度 | ||
材料識(shí)別 |
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| 用戶的轉(zhuǎn)換 |
| 鐵/非鐵，自動(dòng)識(shí)別模式轉(zhuǎn)換 |
測(cè)量原理 | [F]磁通量（霍爾效應(yīng)） | ||||
測(cè)量范圍 | 0-2,000μm | 0-3,000微米 | 0-2,000μm | 0-5,000微米 | 0-500微米 |
z大 | 0.1μm，1μm | 1微米 | 0.1微米 | 0.1微米，1微米 | 5微米 |
配置格式 | 0點(diǎn)校正 | 0點(diǎn)校正 | 0點(diǎn)校正 | 沒有校準(zhǔn)功能 | 沒有校準(zhǔn)功能 |
準(zhǔn)確性 | ±（1微米+ 2％） | ±（2微米+ 3％） | ±（1微米+ 3％） | ±（1微米+ 2％） | ±（10微米+ 5％） |
測(cè)量速度 | 1,500ms | 600ms | 1,300ms | 1,500ms | 600ms |
